溫度沖擊試驗箱，又稱高低溫沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗機(jī)，適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫溫度冷熱沖擊試驗的環(huán)境試驗箱設(shè)備，可滿足電工電子產(chǎn)品及軍用設(shè)備等環(huán)境試驗 - 高溫試驗/低溫試驗/溫度變化試驗/高低溫沖擊試驗/溫度沖擊試驗/冷熱沖擊試驗。
產(chǎn)品介紹
星拓高低溫冷熱沖擊試驗箱均以氣體為媒介實現(xiàn)快速溫度沖擊試驗?zāi)康?，依?jù)溫區(qū)布局分兩箱溫度沖擊試驗箱和三箱溫度沖擊試驗箱，可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，具有高低溫交變試驗箱的功能。（注：冷熱沖擊試驗箱無法進(jìn)行濕熱試驗?。?/span>
試驗標(biāo)準(zhǔn)及方法
1）GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；
2）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
3）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
5）GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗；
6）GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗；
7）GJB/T 150.5-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。
注：支持非標(biāo)定制
