一些半導(dǎo)體芯片由于腐蝕而造成電源線路中斷,特別是在有振動(dòng)的環(huán)境中,尤為嚴(yán)重。因此尤其需要對(duì)在船舶上或者是沿海區(qū)域所使用的半導(dǎo)體芯片進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)是非常有必要的,接下來(lái)星拓環(huán)境將圍繞船舶半導(dǎo)體芯片詳細(xì)解說(shuō)其鹽霧試驗(yàn)的過(guò)程。
船舶半導(dǎo)體芯片鹽霧試驗(yàn)過(guò)程
首先將試驗(yàn)樣品進(jìn)行預(yù)處理,按照規(guī)定承受彎曲應(yīng)力的預(yù)處理,如果已經(jīng)作為其他試驗(yàn)進(jìn)行過(guò),則不需要重新進(jìn)行彎曲;
然后將試驗(yàn)樣品置于循環(huán)鹽霧試驗(yàn)箱中,設(shè)置好所需要的溫濕度,調(diào)整噴霧量大小與鹽霧噴出角度;
選擇試驗(yàn)時(shí)間:試驗(yàn)時(shí)間a:24±2h;試驗(yàn)時(shí)間b:48±4h;試驗(yàn)時(shí)間c:96±4h;試驗(yàn)時(shí)間d:240±8h;一般來(lái)說(shuō)試驗(yàn)時(shí)間需要根據(jù)用戶試樣的要求選擇合適的,若無(wú)規(guī)定則可選取試驗(yàn)時(shí)間a。
船舶半導(dǎo)體芯片鹽霧試驗(yàn)結(jié)果
試驗(yàn)結(jié)束后,如果出現(xiàn)以下結(jié)果,則判定為失效:
在室內(nèi)正常照明下,放大1倍~3倍檢查,標(biāo)識(shí)模糊;
腐蝕缺陷面積超過(guò)任何封裝零件(例如蓋板、引線或外殼)鍍層金屬面積的 5%;引線缺損、斷裂;放大 10~20 倍檢查,完全貫穿零件的腐蝕。
以上就是船舶半導(dǎo)體芯片鹽霧試驗(yàn)的過(guò)程詳解以此來(lái)確定其耐腐蝕的能力。星拓環(huán)境是一家全力打造技術(shù)先進(jìn)、質(zhì)量過(guò)硬、服務(wù)優(yōu)質(zhì)、合作共贏的高新技術(shù)生產(chǎn)企業(yè),多次承擔(dān)大型企業(yè)事業(yè)單位的檢測(cè)研發(fā)課題、為各大質(zhì)檢科研單位及大型企業(yè)事業(yè)單位提供一站式服務(wù)和檢測(cè)試驗(yàn)設(shè)備,若有任何鹽霧試驗(yàn)箱相關(guān)需求,可隨時(shí)聯(lián)系廣東星拓環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備廠家進(jìn)行咨詢,星拓工程團(tuán)隊(duì)可為您提供一對(duì)一專業(yè)的技術(shù)咨詢與指導(dǎo),期待與您并肩合作。